多功能扫描探针显微镜

MultiMode Scanning Probe Microscope

型号  Nanoscope 4

    多种功能集于一体:

       ·扫描隧道显微镜(STM) ·原子力显微镜(AFM)
          
·摩擦力显微镜          ·静电力显微镜
          
·磁力显微镜            ·表面电势显微镜
 

    性能特点 :

           ·原子级的高分辨率: 横向:0.1nm
                               纵向:0.01nm
           ·可实时得到表面三维图象。
           ·多种测量模式可获得材料和表面的多种信息。
           ·可在大气、溶液等不同环境下工作。

        控制器的最新改进:

           ·扫描速率比以前快十倍
           ·图像清晰度极大提高(4000´4000点)
           ·增加了Q-Control功能(Q为振动因子)
           ·增加了线同步和幅同步信号输出
           ·样品台可变温,最高250℃

    用途 :

           •原子级空间分辨的表面结构观测

           ·操纵原子和分子,用于纳米尺度的结构加工和超高密度信息存储  

铂上碘吸附物晶格的单原子缺陷

Si(100)上生长的外延Si膜