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仪器的特点：
◆硬件：
·X-射线管功率高达4kW,使用75μm薄铍窗，使分析有最大灵敏度。
·多至10位的初级滤器，4位准直器，晶面间距不断增加的8块分析晶体可覆盖全部分
析元素的范围。
·60位X—Y机械手进样器，保证了大批量样品的自动化进行。
·高压发生器及探测器线路的高稳定度及测角仪的高精度，保证了测量的高精度。
◆软件：
采用独有的变动α-系数校正基体效应，给
出更准确的分析结果。
·多任务软件包SPECTRAPLUS完全集成了
定性、定量及无标样软件，定点模式和
扫描模式可单独使用，也可混合使用。
·样品厚度校正和铑靶康普顿散射峰校正
功能，给出更准确的无标样分析结果和
评定。
应 用：
XRF 分析法可应用于冶金、化工、地质、新材料、
机械、药物等各个领域的原料及产品的化学成分分析。
样品可为金属、矿石、粉末等任何形态的固体、也可为
液体。可完成的三
种分析类型为：
1 定性分析：鉴定样品由何种元素所组成。
2 定量分析：按图示方法制样。用标准样品进行校准，得到精确的测量结果。
3 无标样分析：利用其软件及对大量样品分析的数据库，可快速测出样品的成分，相对误
差约10%。
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