场发射能量过滤透射电子显微镜

Field Emission Transmission Electron Microscope

with Ω Type Filter

型号  JEM-2010FEF 

    技术指标

        分辨率          点分辨率:0.23nm

                条纹分辨率:0.10nm

电子能量分辨率   1.5eV(电子能量损失谱)

                20eV(成像模式)

                10eV(电子衍射模式)

最高加速电压     200kV

最高放大倍数     1,500,000×

最小电子束斑尺寸 0.5nm

    设备特点 :

           ·热场发射电子枪,适用于材料的高分辨和高空间分辨的观察。

           ·配置Ω能量过滤器,可分别获得弹性散射和非弹性散射的信息。

           ·高分辨物镜极靴,可获得纳米尺度材料的形貌、结构和成分信息。

           ·配备高角度环形暗场探测器,可获得Z衬度像。

           ·配置超薄窗口的X射线能谱仪。

    功能 :纳米尺度的高分辨和高空间分辨观察。

    用途 :适用于先进材料微区、微量相的形貌、结构及成分的综合分析。

 

GaAs/AlAs的原子结构像,可显示原子尺度的结构变化

Cu72.5Pd27.5的电子衍射花样

a,b:能量过滤前 c,d:能量过滤后